Temperature dependence of very deep emission from an exciton bound to an isoelectronic defect in polycrystalline CuInS2
autor
Krustok, Jüri
Raudoja, Jaan
Jaaniso, Raivo
vastutusandmed
J.Krustok, J.Raudoja, R.Jaaniso
allikas
Applied physics letters
ajakirja aastakäik number kuu
89
ilmumisaasta
2006
leheküljed
5, p. 051905 ([3] p.) : ill
leitav
https://staff.ttu.ee/~juri.krustok/PDF-s/Krustok,%20Raudoja,%20Jaaniso_APL.pdf
märksõna
pooljuhtmaterjalid
eksitonid
defektid
temperatuuritundlikkus
ISSN
0003-6951
keel
inglise