Co on thin Al2O3 films grown on Ni3Al(1 0 0)
autor
Podgurski, Vitali
Costina, Ioan
Franchy, R.
vastutusandmed
V.Podgursky, I.Costina, R.Franchy
allikas
Surface science
ajakirja aastakäik number kuu
529
ilmumisaasta
2003
leheküljed
p. 419-427
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602803000815
märksõna
koobalt
alumiiniumoksiid
pinnadefektid
pinnad
difusioon (füüsika)
klastrid
Auger' spektroskoopia
elektronspektroskoopia
ISSN
0039-6028
keel
inglise