Marginal PCB assembly defect detection on DDR3/4 memory bus
autor
Odintsov, Sergei
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
vastutusandmed
Sergei Odintsov, Artur Jutman and Sergei Devadze
allikas
2017 IEEE International Test Conference (ITC 2017) : Forth Worth, Texas, USA, 31 October - 2 November 2017
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 238-247 : ill
konverentsi nimetus, aeg
48th International Test Conference (ITC), 31 October - 2 November 2017
konverentsi toimumispaik
Fort Worth, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/TEST.2017.8242070
märksõna
tarkvaraarendus
rikked
mäluseadmed
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/25589
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85038601577&origin=inward&txGid=69af237766f73a4c6e2ae7c6c9a1d423
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000426969200041
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Mathematics
Matemaatika
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Mathematics. Applied mathematics
Matemaatika. Rakendusmatemaatika
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
ISSN
1089-3539
ISBN
978-1-5386-3414-1
märkused
Bibliogr.: 20 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise