Использование четырехзондового метода для измерения различных параметров полупроводникового материалаSamolevski, B.; Korpen, J.; Velmre, EnnXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 117 https://www.ester.ee/record=b1306141*est