Determination of transistor low freqency noise parameters for SPICE programmeZeltinš, M.; Slaidinš, I.Automation, simulation & measurement : ASM'91 : 3rd biennal conference, Tallinn, October 7-11, 1991. Section S / Tallinn Technical University1992 / p. 127-131: ill

Exposure to high or low frequency noise at workplaces : differences between assessment, health complaints and implementation of adequate personal protective equipmentReinhold, Karin; Kalle, Sigrid; Paju, JanaAgronomy research2014 / p. 895-906 : ill

О выборе полосы пропускания измерителя низкочастотных шумовTammet, HeinarТруды по электротехнике и автоматике : сборник статей. 81970 / с. 25-29 : илл https://www.ester.ee/record=b2189971*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/f65c4042-b55d-4b5b-b9b9-8a70cac2957d/

Цифровой фильтр для измерения низкочастотных шумовSiem, L.; Mägi, HarriXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 121 https://www.ester.ee/record=b1306141*est