Achieving accuracy in charge carrier mobility modelling in siliconMnatsakanov, T.T.; Gresserov, B.N.; Pomortseva, L.I.Automation, simulation & measurement : ASM'91 : 3rd biennal conference, Tallinn, October 7-11, 1991. Section S / Tallinn Technical University1992 / p. 89-94: ill Band gap engineering by cationic substitution in Sn(Zr1−xTix)Se3 alloy for bottom sub-cell application in solar cellsKondrotas, Rokas; Pakstas, Vidas; Franckevicius, Marius; Suchodolskis, Arturas; Tumenas, Saulius; Jasinskas, Vidmantas; Juskenas, Remigijus; Krotkus, Arunas; Muska, Katri; Kauk-Kuusik, MaritJournal of materials chemistry A2023 / p. 26488–26498 https://doi.org/10.1039/D3TA05550G Corrected accounting of electron-hole scattering in cross-term current equations for Si and SiCVelmre, Enn; Udal, AndresPhysica scripta1999 / Proceedings of 18th Nordic Semiconductor Meeting, Linköping, Sweden, June 7-10, 1998, ISBN 91-87308-71-1, p. 193-197: ill https://ui.adsabs.harvard.edu/abs/1999PhST...79..193V/abstract Correlation between the UV-reflectance spectra and the structure of poly-Si films obtained by aluminium induced crystallizationDimova-Malinovska, D.; Angelov, O.; Sendova-Vassileva, M.; Mikli, ValdekJournal of optoelectronics and advanced materials2009 / 9, p. 1079-1085 https://www.researchgate.net/publication/288122478_Correlation_between_the_UV-reflectance_spectra_and_the_structure_of_poly-Si_films_obtained_by_Aluminium_Induced_Crystallization Electrochemical deposition of thin polypyrrole films on silicon substratesIntelmann, Carl Matthias; Sõritski, Vitali; Tsankov, Dimiter; Hinrichs, Karsten; Rappich, Jörg5th ISE Spring Meeting : Dublin (Ireland), 01.-04.05.072007 / ? p Electrochemically deposited ultrathin polypyrrole films on siliconIntelmann, Carl Matthias; Sõritski, Vitali; Tsankov, Dimiter; Hinrichs, Karsten; Rappich, JörgGDCh (German Chemical Society) - YoungChemists : Spring Symposium 2007 : Chemnitz (Germany), 22.-24.03.072007 / ? p From virtual characterization to test-chips : DFM analysis through pattern enumerationMartins, Mayler G.A.; Pagliarini, Samuel Nascimento; Isgenc, Mehmet Meric; Pileggi, LarryIEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems2020 / p. 520-532 https://doi.org//10.1109/TCAD.2018.2889772 Impurity interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Kärner, T.; Ugaste, Ülo; Laas, Tõnu; Heinmaa, I.; Medvid, A.Materials science and engineering : B2006 / p. 222-226 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0921510706004375 Jaan Raik: kiibidisain aitaks saada Eestil jõukaks tehnoloogiamaaksMaidla, Margusnovaator.err.ee2023 Kassikuld võib osutuda elektroonikatööstuses kullast kallimaksKristmann, Katriinnovaator.err.ee2024 Kassikuld võib osutuda elektroonikatööstuses kullast kallimaks Keemia tee klaasist ränisse : tänavune Nobeli keemiaauhind seab õigluse jalule keemiateoreetikute ja arvutikeemikute hulgasStrandberg, MarekSirp2013 / lk. 26 https://www.sirp.ee/s1-artiklid/c21-teadus/2013-10-17-20-15-58-2/ Kleenukesed päikeseelemendid aitaks vältida ränipaneele ootavat kriisiSibinski, Maciejnovaator.err.ee2024 Kleenukesed päikeseelemendid aitaks vältida ränipaneele ootavat kriisi Modelling of charge carrier non-isothermal transport in silicon and silicon carbideVelmre, Enn; Udal, AndresProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2000 / 2, p. 144-154 : ill Must räni tõi helged lootusedKrustok, JüriEesti Päevaleht2000 / 19. veebr., lk. 23 https://artiklid.elnet.ee/record=b1637055*est Porphyrin-based hybrid nanohelices : cooperative effect between molecular and supramolecular chirality on amplified optical activityAnfar, Zakaria; Kuppan, Balamurugan; Scalabre, Antoine; Nag, Rahul; Pouget, Emilie; Nlate, Sylvain; Magna, Gabriele; Di Filippo, Ilaria; Monti, Donato; Naitana, Mario L.; Stefanelli, Manuela; Nikonovich, Tatsiana; Borovkov, Victor; Aav, Riina; Paolesse, Roberto; Oda, ReikoThe journal of physical chemistry B2024 / p. 1550-1556 https://doi.org/10.1021/acs.jpcb.3c07153 Production of silicon free master alloys in EstoniaGorkunov, Valeri; Munter, ReinScientific proceedings of Riga Technical University. 1. [series], Material science and applied chemistry2007 / p. 111-121 Päikeseenergeetika tulevikku kujundavad kilepinnad ja tandempaneelidPiir, Raitnovaator.err.ee2023 Päikeseenergeetika tulevikku kujundavad kilepinnad ja tandempaneelid Relationships between essential and non-essential elements in plants with different nutritional strategies and silicon absorption capacities : [manuscript]Monei, Nthati Lilian; Benyr, V.; Heilmeier, Hermann; Hitch, Michael William; Wiche, OliverThe international journal of environment & health2023 Review of - SiC wide-bandgap heterostructure properties as an alternate semiconductor materialPatankar, Udayan Sunil; Rajput Priti, J.; Koel, Ants; Nitnaware, V.N.International Conference on Inventive Research in Material Science and Technology, ICIRMCT 2018 : March 23-24, 20182018 / art. 020011 https://doi.org/10.1063/1.5038690 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS Selective laser melting of commercially pure siliconLai, Zhouyi; Guo, Ting; Zhang, Shengting; Kollo, Lauri; Attar, Hooyar; Wang, Zhi; Prashanth, Konda GokuldossJournal Wuhan University of Technology, Materials Science Edition2022 / p. 1155 - 1165 https://doi.org/10.1007/s11595-022-2647-3 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS Silica granulates in concrete - dispersion and durability aspectsLagerblad, Björn; Utkin, Pjotr1993 https://www.ester.ee/record=b1025989*est Study of ion implanted Fe depth distribution in Si after pulsed ion beam treatmentAngelov, Christo; Georgiev, S.; Amov, Blagoj; Goranova, E.; Mikli, Valdek; Dezsi, I.; Kotai, E.Journal of optoelectronics and advanced materials2007 / 2, p. 307-310 https://www.researchgate.net/publication/289186791_Study_of_the_ion_implanted_Fe_depth_distribution_in_Si_after_pulsed_ion_beam_treatment The role of silicon in the hot dip galvanizing processSepper, Sirli; Peetsalu, Priidu; Kulu, Priit; Saarna, Mart; Mikli, ValdekProceedings of the Estonian Academy of Sciences2016 / p. 159-165 : ill Ursache und Wirkungsweise der Alkalireaktion in den aus estnischem Portlandölschieferzement hergestellten BetonenKikas, Verner; Ojaste, Kalju; Raado, Lembi-MerikeZKG International = Zement, Kalk, Gips international1999 / 2, S. 106-111 Valgustkiirgav räniKrustok, JüriHorisont2001 / 1, lk. 12 Üliõhuke päikesepaneel avab energia tootmisele uued uksedAlvela, Ain; Krautmann, Robertnovaator.err.ee2023 Üliõhuke päikesepaneel avab energia tootmisele uued uksed https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e7e64926-5d49-40ad-8b3a-e225ea034f7d Ученый из Эстонии разрабатывает солнечные панели, которые изменят мир Инжекционные зависимости времени жизни неосновных носителей заряда в кремнии, легированном золотом и платинойUdal, AndresСиловые быстродействующие полупроводниковые приборы : сборник статей. Часть II1989 / с. 101-105 : ил., табл https://www.ester.ee/record=b1264433*est Испульсное легирование кремния в сильноточном газовом разрядеGavrilov, Aleksei; Katšurin, G.A.Письма в Журнал технической физики1982 / с. 388-391 https://www.ester.ee/record=b2142356*est Комплексное рентгенодифракционное исследование строения нарушенных слоев, обусловленных резкой кремнииMilvidski, M.; Fomin, V.; Meiler, BorissФизика и химия обработки материалов1986 / с. 122-125 https://www.ester.ee/record=b1804847*est Межфазное взаимодействие на контакте Ni-Si и Ni-GaAsMeiler, BorissПоверхность : физика, химия, механика1985 / с. 62-67 : илл https://www.ester.ee/record=b2149829*est Наращивание поликристаллических слоев кремния на рельефную поверхность двуокиси кремнияPaat, Aadu; Timma, Enn; Trombovetski, A.Труды по физике : сборник статей. 61973 / с. 27-33 : илл https://www.ester.ee/record=b2190564*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/020d3bce-d60f-45bd-aa8f-4906f2c1d0d6 О целесообразности увеличения обратного напряжения силовых кремниевых диодовVaher, G.; Tarma, MatiПрименение эпитаксиальной технологии в производстве силовых полупроводниковых приборов : сборник материалов Всесоюзного научно-технического семинара. Часть 11978 / с. 21-24 https://www.ester.ee/record=b1273235*est Об определении экологических ПДК для минеральных форм азота, фосфора и кремния в водных объектахSäärekõnno, JüriTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 32-36: ill Отжиг имплантированных слоев кремния в плазме импульсного газового разрядаGavrilov, Aleksei; Katšurin, G.A.Физика и техника полупроводников = Physics and technics of semiconductors1981 / с.1232-1234 https://www.ester.ee/record=b1263919*est Получение высокохромистых сплавов TiC-Fe-Cr, легированных кремниемKübarsepp, JakobПорошковая металлургия = Powder metallurgy : ежемесячный научно-технический журнал1986 / с. 65-69 : рис., таб https://www.ester.ee/record=b1645489*est Применение анодного окисления при исследовании электрофизических характеристик полупроводниковых структур "кремний на изоляторе"Gavrilov, AlekseiTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 53-59: ill Скорость связывания кремнезема песка в случае образования высоковольтных гидросиликатов кальцияReiman, VärdiСборник трудов (НИПИсиликатобетон)1969 / с. [?] https://www.ester.ee/record=b1764431*est Структура и глубина нарушенного слоя при грубой абразивной обработке монокристаллического кремнияMeiler, Boriss; Hatskevitš, M.; Ladotškin, A.; Fomin, V.Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 60-71: ill Термообработка пластин кремния с нарушенным слоемMeiler, Boriss; Ladotškin, A.; Fomin, V.Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 72-86: ill Численное моделирование процесса выключения одномерных кремниевых тиристорных структурVelmre, Enn; Udal, AndresПолупроводниковые приборы : сборник статей1982 / с. 74-79 https://www.ester.ee/record=b1356516*est Численное моделирование статических неизотермических процессов в кремниевых силовых диодных и тиристорных структурах в открытом состоянииVelmre, Enn; Udal, Andres; Freidin, BorisВсесоюзный научно-технический семинар "Повышение параметров силовых полупроводниковых приборов на основе новых конструктивных решений и методов изготовления" (Запорожье, 1981)1981 / с.37-38 Численное моделирование физических процессов в одномерных кремниевых диодных структурах в стационарном режимеVelmre, Enn; Freidin, Boris; Udal, AndresАлгоритмы и программы : информационный бюллетень1980 / с.?