Elektroonikaaparatuuri töökindluse arvutamine : metoodiline juhend1977 https://www.ester.ee/record=b1266100*est

Impulsstehnika : skeemid, diagrammid = Импульсная техника : схемы, диаграммы1972 https://www.ester.ee/record=b1326260*es

Impulsstehnika laboratoorsete tööde juhendRätsep, Ülo; Schults, Eduard1972 https://www.ester.ee/record=b1324970*est

M-DM süsteemi alalispingevõimendiRätsep, ÜloSide. Raadio. Televisioon : infoseeria 101974 / lk. 11-16 : ill https://www.ester.ee/record=b1232303*est

Raadioinseneri ettevalmistus ja tegevusRätsep, ÜloTallinna Polütehnik : TPI parteikomitee, rektoraadi, komsomolikomitee, ametiühingukomitee häälekandja1987 / lk. 3 https://www.ester.ee/record=b1254708*es https://digikogu.taltech.ee/et/Item/ecb9690a-69df-4903-bc42-f94c9a379d40

Raadiotehnika. Saamislugu ja arengRätsep, ÜloTallinna Polütehnik : TPI parteikomitee, rektoraadi, komsomolikomitee, ametiühingukomitee häälekandja1987 / lk. 2 : ill https://www.ester.ee/record=b1254708*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/ecb9690a-69df-4903-bc42-f94c9a379d40

Teadusuuringud raadiotehnika kateedris alates 1966. aastastRätsep, ÜloTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1991 / lk. 4-7

Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроникиKaipoksin, L.; Puusepp, Ü.; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная промышленность : ЭП : научно-технический сборник1983 / с. 76-79 : илл https://www.ester.ee/record=b1802011*est

Измерительный модулятор на фоторезисторахValdna, Vello; Rätsep, Ülo; Jaakson, A.Республиканская научно-техническая конференция, посвященная Дню радио : тезисы докладов1973 / с. 32 https://www.ester.ee/record=b1383925*est

Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)Rätsep, Ülo1983 https://www.ester.ee/record=b1522476*est

Классификация сигналов в реальном маштабе времениRätsep, Ülo; Ratassepp, JaakМетоды цифровой обработки и хранения радиотехнических сигналов1987 / с. 3-6

Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхемRätsep, ÜloТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы1981 / с. 81-82 https://www.ester.ee/record=b1310801*est

Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состоянийRätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов1982 / с. 39-43

Определение структуры статистических закономерностей методом кластеризации наблюденийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная техника. Серия 9, Экономика и системы управления : научно-технический сборник1981 / с. 45-49 : илл https://www.ester.ee/record=b2160900*est

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состоянийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства цифровой обработки сигналов1984 / с. 111-115

РадиотехникаEiskop, Ilmar; Arro, Ilmar; Lumberg, Tõnu; Sullakatko, Toomas; Niinsalu, Udo; Pungar, Eda-Tiia; Mihkelsoo, V.; Schults, Eduard; Morozov, S.V.; Trofimets, Tatjana; Toomet, Madis; Maltsev, Jüri; Rätsep, Ülo1981 https://www.ester.ee/record=b1507633*est

РадиотехникаEiskop, Ilmar; Arro, Ilmar; Lumberg, Tõnu; Sullakatko, Toomas; Kollom, Urve; Laksberg, Edgar; Ess, Viktor; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.; Smoljanski, L.E.; Ots, Avo; Logunov, Gennadi; Sillamaa, Hanno; Plakk, Mari; Plakk, Peeter; Gurjanov, Boris1982 https://www.ester.ee/record=b1312255*est

РадиотехникаHinrikus, Hiie; Arro, Ilmar; Ratassepp, Jaak; Germ, Eduard; Sullakatko, Toomas; Niinsalu, Udo; Lumberg, Tõnu; Heinrichsen, Vladimir; Roosi, Aarne; Loitme, Olev; Gerasimtšuk, Valeri; Meister, Ants; Kangur, Oleg; Müller, E.; Andra, Andres; Kruming, Boris; Pungar, Eda-Tiia; Vichmann, Frederik; Jermakov, A.A.; Budarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.1984 https://www.ester.ee/record=b1302208*est

РадиотехникаHinrikus, Hiie; Rätsep, Ülo; Ratassepp, Jaak; Niinsalu, Udo; Madar, Urve; Trump, Tõnu; Martverk, Peep; Raja, Aimur; Müller, E.; Meister, Ants; Allik, V.; Lumberg, Tõnu; Loitme, Olev; Kruming, Boris; Animägi, T.; Borštševski, A.I.; Kangur, Oleg1987 https://www.ester.ee/record=b1273977*est

Руководство к лабораторным работам по импульсной техникеRätsep, Ülo; Schults, Eduard1971 https://www.ester.ee/record=b1421351*est

Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхемRätsep, ÜloМетоды обработки и регистрации сигналов1981 / с. 53-58

Статистическое исследование влияния параметров технологического микроклимата на процесс изготовления изделий твердотельной электроникиFrid, M.; Rätsep, Ülo; Kailosin, L.Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике. Серия 7, Технология, организация производства и оборудование1981 / с. 6-8 https://www.ester.ee/record=b2880670*est