Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроникиKaipoksin, L.; Puusepp, Ü.; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная промышленность : ЭП : научно-технический сборник1983 / с. 76-79 : илл https://www.ester.ee/record=b1802011*est

Свойства кадмикона при раздельной засветке и считыванииTšubrik, A.B.; Schults, EduardПередающие телевизионные приборы и усилители яркости : (Материалы восьмой Всесоюзной научно-технической конференции, 1981 г.)1982 / с. 55

Статистическое исследование влияния параметров технологического микроклимата на процесс изготовления изделий твердотельной электроникиFrid, M.; Rätsep, Ülo; Kailosin, L.Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике. Серия 7, Технология, организация производства и оборудование1981 / с. 6-8 https://www.ester.ee/record=b2880670*est