DSP-based power-quality monitoring deviceMärtens, Olev; Trampärk, Harri; Liimets, Aivar; Nobel, Peter; Veskimeister, Andres; Järvalt, AldurWISP2007 proceedings : 5th IEEE International Symposium on Intelligent Signal Processing : Alcala de Henares, Madrid (Spain), October 3-5, 20072007 / [5] p https://ieeexplore.ieee.org/document/4447591

Численное моделирование технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Модель диффузииNobel, PeterXXVII студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 19-21 апреля 1983 г. : тезисы докладов. Часть 31983 / с. 14 https://www.ester.ee/record=b1571572*est