TalTech publikatsioonid
pealdis George, N., Medeiros, G.C., Chen, J., Raik, J. et al.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
pealkiri A rescue demonstrator for interdependent aspects of reliability, security and quality towards a complete EDA flow
vastutusandmed Nevin George, Guilherme Cardoso Medeiros, Junchao Chen, Josie Esteban Rodriguez Condia, Thomas Lange, Aleksa Damljanovic, Raphael Segabinazzi Ferreira, Aneesh Balakrishnan, Xinhui Lai, Shayesteh Masoumian, Dmytro Petryk, Troya Cagil Koylu, Felipe Augusto da Silva, Ahmet Cagri Bagbaba, Cemil Cem Gürsoy, Said Hamdioui, Mottaqiallah Taoui, Milos Krstic, Peter Langendoerfer, Zoya Dyka, Marcelo Brandalero, Michael Hübner, Jörg Nolte, Heinrich Theodor Vierhaus, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero, Luca Sterpone, Jaan Raik, Dan Alexandrescu, Maximilien Glorieux, Georgios Selimis, Geert-Jan Schrijen, Anton Klotz, Christian Sauer and Maksim Jenihhin
allikas Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference &Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020, Grenoble, France
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja EDAA
ilmumisaasta 2020
leheküljed p. 58
konverentsi nimetus, aeg 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference &Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020
konverentsi toimumispaik Grenoble, France
märksõna infotehnoloogia
tehisintellekt
riistvara
vormimärksõna konverentsikogumikud
ISBN 978-3-9819263-4-7
url https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=9116424