TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Fujiwara, H., Krivenko, A.
maakood jp
autor Raik, Jaan
Fujiwara, Hideo
Krivenko, Anna
pealkiri RT-level identification of potentially testable initialization faults
vastutusandmed J.Raik, H.Fujiwara, A.Krivenko
allikas The Ninth IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2008), Sapporo, Japan
ilmumiskoht Sapporo
ilmumisaasta 2008
leheküljed [6] p