TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V.
maakood ed
autor Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Govind, Vineeth
pealkiri Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
vastutusandmed Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind
allikas Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
ilmumiskoht [Tallinn
kirjastus/väljaandja Tallinna TehnikaĆ¼likool]
ilmumisaasta [2007]
leheküljed lk. 33-37 : ill
ISBN 978-9985-59-700-2
märkused Bibliogr.: 17 nim