TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Ubar, R.
maakood nl
autor Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations
vastutusandmed Jaan Raik and Raimund Ubar
allikas Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
ajakirja aastakäik number kuu Vol. 16
ilmumisaasta 2000
leheküljed 3, p. 213-226 : ill
ISSN 0923-8174
märkused Bibliogr.: 21 ref