TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R.-J., Raik, J., Ivask, E., Brik, M.
maakood yu
autor Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Ivask, Eero
Brik, Marina
pealkiri Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems
vastutusandmed R.Ubar, J.Raik, E.Ivask, M.Brik
allikas 23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE Electron Devices Society
ilmumisaasta [2002]
leheküljed p. 617-620 : ill
ISBN 0-7803-7235-2
märkused Bibliogr.: 8 ref