TalTech publikatsioonid
pealdis Pleskacz, W.A., Jenihhin, M., Raik, J., Rakowski, M., Ubar, R.-J., Kuzmicz, W.
maakood us
autor Pleskacz, Witold A.
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Rakowski, Michal
Ubar, Raimund-Johannes
Kuzmicz, Wieslaw
pealkiri Hierarchical analysis of short defects between metal lines in CMOS IC
vastutusandmed Witold A.Pleskacz, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Michal Rakowski, Raimund Ubar, Wieslaw Kuzmicz
allikas Proceedings : 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : (DSD 2008) : September 3-5, 2008, Parma, Italy
ilmumiskoht Los Alamitos
kirjastus/väljaandja IEEE Computer Society
ilmumisaasta 2008
leheküljed p. 729-734 : ill
ISBN 978-0-7695-3277-6
märkused Bibliogr.: 19 ref