TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Jürimägi, L., Orasson, E., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood ch
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Orasson, Elmet
Raik, Jaan
pealkiri Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
vastutusandmed Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, and Jaan Raik
allikas VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja Springer International Publishing
ilmumisaasta c2016
leheküljed p. 23-45 : ill
seeria-sari IFIP advances in information and communication technology ; 483
konverentsi nimetus, aeg VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference, October 5-7, 2015
konverentsi toimumispaik Daejeon, Korea
märksõna digitaalintegraallülitused
digitaalelektroonika
diagnostika (tehn.)
vead
võtmesõna combinational circuits
fault collapsing
fault equivalence and dominance
binary decision diagrams
lower and higher bounds
ISSN 1868-4238
ISBN 978-3-319-46096-3
märkused Bibliogr.: 35 ref
Saadaval ka e-raamatuna
url http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2