TalTech publikatsioonid
pealdis Skobtsov, V., Skobtsov, Yu.
maakood ed
autor Skobtsov, Vadim
Skobtsov, Yu.
pealkiri Test generation for sequential digital systems based on symbolic simulation
vastutusandmed V.Skobtsov, Yu.Skobtsov
allikas BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht [Tallinn]
ilmumisaasta c1998
leheküljed p. 341-344: ill
ISBN 9985-59-081-3
märkused Bibl. 7 ref