TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Nõmmeots, T., Ubar, R.-J.
maakood br
autor Raik, Jaan
Nõmmeots, Tanel
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri New method of testability calculation to guide RT-level test generation
vastutusandmed Jaan Raik, Tanel Nõmmeots, Raimund Ubar
allikas 4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 2003
ilmumiskoht [S. l.]
ilmumisaasta [2003]
leheküljed p. 46-51 : ill
märkused Bibliogr.: 12 ref