TalTech publikatsioonid
pealdis Tihhomirov, V., Jenihhin, M., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood ed
keel inglise
autor Tihhomirov, Valentin
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
pealkiri Using simulation statistics for bug localization in RTL designs
vastutusandmed Valentin Tihhomirov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
ilmumiskoht Tallinn
kirjastus/väljaandja Tallinna TehnikaĆ¼likooli kirjastus
ilmumisaasta 2013
leheküljed p. 107-110 : ill
konverentsi nimetus, aeg Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmes aastakonverents, 15.-16. novembril 2013
konverentsi toimumispaik Haapsalu
märksõna digitaaltehnika
riistvara
testimine
kompuutersimulatsioon
ISBN 978-9949-23-560-5
märkused Bibliogr.: 19 ref