TalTech publikatsioonid
pealdis Jenihhin, M.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood ro
keel inglise
autor Jenihhin, Maksim
pealkiri Identification and rejuvenation of NBTI-critical paths in nanoscale logic circuits
vastutusandmed Maksim Jenihhin
allikas 1st International Workshop on Reliability and Aging in Forthcoming Electronic Systems : May 28-29, 2015, Cluj-Napoca, Romania
ilmumiskoht [Cluj-Napoca]
kirjastus/väljaandja Technical University of Cluj-Napoca
ilmumisaasta 2015
leheküljed [1] p
konverentsi nimetus, aeg 1st International Workshop on Reliability and Aging in Forthcoming Electronic Systems, May 28-29, 2015
konverentsi toimumispaik Cluj-Napoca, Romania
märksõna elektronl├╝litused
loogikaelemendid
diagnostika (tehn.)