TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Kostin, S., Raik, J.
maakood xx
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
pealkiri Multiple stuck-at-fault detection theorem
vastutusandmed Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
ilmumiskoht Tallinn
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta [2012]
leheküljed p. 236-241 : ill
konverentsi nimetus, aeg IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), April 18-20, 2012
konverentsi toimumispaik Tallinn
võtmesõna combinational circuits
multiple faults
fault masking
ISBN 978-1-4673-1185-4
märkused Bibliogr.: 24 ref