TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Kõusaar, J., Gorev, M., Devadze, S.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Kõusaar, Jaak
Gorev, Maksim
Devadze, Sergei
pealkiri Combinational fault simulation in sequential circuits
vastutusandmed Raimund Ubar, Jaak Kõusaar, Maksim Gorev, Sergei Devadze
allikas 2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2015
leheküljed p. 2876-2879 : ill
konverentsi nimetus, aeg 2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 24-27 May, 2015
konverentsi toimumispaik Lisboa, Portugal
märksõna elektronlülitused
rikked
diagnostika (tehn.)
kompuutersimulatsioon
algoritmid
võtmesõna sequential circuits
stuck-at-faults
design for testability
fault simulation with critical path tracing
ISBN 978-1-4799-8391-9
märkused Bibliogr.: 16 ref