TalTech publikatsioonid
pealdis Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood ee
keel inglise
autor Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
pealkiri Accurate NBTI-induced gate delay modeling based on intensive SPICE simulations
vastutusandmed Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]
allikas MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja COST
ilmumisaasta 2015
leheküljed p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale, MEDIAN Finale, November 10-11, 2015
konverentsi toimumispaik Tallinn, Estonia
märksõna transistorid
pooljuhtseadised
materjalide vananemine
kompuutermodelleerimine
kompuutersimulatsioon
võtmesõna Negative Bias Temperature Instability (NBTI)
aging
gate delay
predictive model
SPICE
märkused Bibliogr.: 15 ref