TalTech publikatsioonid
pealdis Mizsei, J., Korolkov, O., Toompuu, J., Mikli, V., Rang, T.
TTÜ struktuuriüksus Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
materjaliuuringute teaduskeskus
maakood ch
keel inglise
autor Mizsei, Janos
Korolkov, Oleg
Toompuu, Jana
Mikli, Valdek
Rang, Toomas
pealkiri Study of surface defects in 4H-SiC Schottky diodes using a scanning Kelvin probe
vastutusandmed J. Mizsei, O. Korolkov, J. Toompuu, V. Mikli and T. Rang
allikas Silicon Carbide and Related Materials 2012 : selected peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation
ilmumiskoht Durnten-Zurich
kirjastus/väljaandja Trans Tech Publications
ilmumisaasta c2013
leheküljed p. 677-680 : ill
seeria-sari Materials science forum ; 740-742
konverentsi nimetus, aeg 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, 2-6 September, 2012
konverentsi toimumispaik St. Petersburg, Russian Federation
märksõna Schottky barjäär
lekked
dislokatsioon (füüs.)
võtmesõna Schottky diodes
leakage currents
Kelvin probe method
dislocations
SEM investigations
ISSN 0255-5476
ISBN 978-3-03785-624-6
märkused Bibliogr.: 4 ref