TalTech publikatsioonid
pealdis Pfeifer, P., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Pliva, Z.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood fr
keel inglise
autor Pfeifer, Petr
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
Pliva, Zdenek
pealkiri Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs
vastutusandmed Petr Pfeifer, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Zdenek Pliva
allikas MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja COST
ilmumisaasta 2015
leheküljed p. 56-61 : ill
konverentsi nimetus, aeg 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale, March 13, 2015
konverentsi toimumispaik Grenoble, France
märksõna v√§liprogrammeeritav loogika
eluts√ľklid (tehn.)
diagnostika (tehn.)
võtmesõna aging
FPGA
critical path
logic
LUT
BRAM
märkused Bibliogr.: 14 ref