TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Govind, V., Ubar, R.-J.
maakood xx
autor Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Design-for-destability-based external test and diagnosis of mesh-like network- on-a-chips
vastutusandmed J.Raik, V.Govind, R.Ubar
allikas IET computers and digital techniques
ajakirja aastakäik number kuu Vol. 3
ilmumisaasta 2009
leheküljed 5, p. 476-486 : ill
ISSN 1751-8601
märkused Bibliogr.: 22 ref
url http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2008.0096