TalTech publikatsioonid
pealdis Lille, H., Kõo, J., Gregor, A., Ryabchikov, A., Sergejev, F., Traksmaa, R., Kulu, P.
keel inglise
autor Lille, Harri
Kõo, Jakub
Gregor, Andre
Ryabchikov, Alexander
Sergejev, Fjodor
Traksmaa, Rainer
Kulu, Priit
pealkiri Comparison of curvature and X-Ray methods for measuring of residual stresses in hard PVD coatings
vastutusandmed Harri Lille, Jakub Kõo, Andre Gregor, Alexander Ryabchikov, Fjodor Sergejev, Rainer Traksmaa, Priit Kulu
allikas Materials science forum
ajakirja aastakäik number kuu Vol. 681, Residual Stresses VIII
ilmumisaasta 2011
leheküljed p. 455-460
võtmesõna curvature method
nc-(AlTi) N/a-Si3N4
PVD coating
thin film
TiAlN
TiCN
TiN
X-Ray Diffraction (XRD)
ISSN 1662-9752