TalTech publikatsioonid
pealdis Pleskacz, W.A., Borejko, T., Walkanis, A., Stopjakova, V., Jutman, A., Ubar, R.-J.
maakood gb
autor Pleskacz, Witold A.
Borejko, Tomasz
Walkanis, A.
Stopjakova, Viera
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri CMOS defects analysis using DefSim measurement environment
vastutusandmed W.A.Pleskacz, T.Borejko, A.Walkanis, V.Stopjakova, A.Jutman, R.Ubar
allikas Informal Digest of Papers : Eleventh IEEE European Test Symposium : ETS 2006 : 21-24 May 2006, Southampton, United Kingdom
ilmumiskoht Southampton
ilmumisaasta 2006
leheküljed p. 241-246 : ill
märkused Bibliogr.: 12 ref