TalTech publikatsioonid
pealdis Brik, M., Raik, J., Ubar, R.-J., Ivask, E.
maakood ed
autor Brik, Marina
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Ivask, Eero
pealkiri On using genetic algorithm for test generation
vastutusandmed M.Brik, J.Raik, R.Ubar, E.Ivask
allikas BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht Tallinn
kirjastus/väljaandja Tallinn University of Technology
ilmumisaasta c2004
leheküljed p. 233-236 : ill
ISBN 9985-59-462-2
märkused Bibliogr.: 8 ref