TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R.-J., Raik, J., Nõmmeots, T.
maakood dk
autor Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Nõmmeots, Tanel
pealkiri Testability guided hierarchical test generation with decision diagrams
vastutusandmed R.Ubar, J.Raik, T.Nõmmeots
allikas 20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 2002
ilmumiskoht Copenhagen
kirjastus/väljaandja TechnoData
ilmumisaasta 2002
leheküljed p. 265-271