TalTech publikatsioonid
pealdis Zagursky, V., Gertners, A.
maakood ed
autor Zagursky, V.
Gertners, A.
pealkiri Testing technique for embedded ADC
vastutusandmed V.Zagursky, A.Gertners
allikas BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht [Tallinn]
ilmumisaasta c1998
leheküljed p. 167-170: ill
ISBN 9985-59-081-3
märkused Bibl. 6 ref