TalTech publikatsioonid
pealdis Kostin, S., Ubar, R., Raik, J.
maakood us
keel inglise
autor Kostin, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
pealkiri Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits
vastutusandmed Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
allikas Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2011
leheküljed p. 81-86
konverentsi nimetus, aeg IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011
konverentsi toimumispaik Gottbus, Germany
märksõna digitaalelektroonika
digitaalintegraall├╝litused
rikked
diagnostika (tehn.)
ISBN 978-1-4244-9753-9
märkused Bibliogr.: 19 ref