TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Oyeniran, A.S., Medaiyese, O.
TTÜ struktuuriüksus arvutis├╝steemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Oyeniran, Adeboye Stephen
Medaiyese, Olusiji
pealkiri Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]
vastutusandmed Raimund Ubar, Adeboye Stephen Oyeniran, Olusiji Medaiyese
allikas BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2018
leheküljed 4 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), October 8-10, 2018
konverentsi toimumispaik Tallinn, Estonia
märksõna mikroprotsessorid
testimine
rikked
tarkvara
algoritmid
võtmesõna microprocessor testing
fault modeling
high-level decision diagrams
greedy and branch & bound algorithms
ISSN 1736-3705
ISBN 978-1-5386-7313-3
märkused Bibliogr.: 16 ref
url https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980