TalTech publikatsioonid
pealdis Osimiry, E.O., Ubar, R., Kostin, S., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Osimiry, Emmanuel Ovie
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
pealkiri A novel random approach to diagnostic test generation
vastutusandmed Emmanuel Ovie Osimiry, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas 2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2016
leheküljed [4] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg 2nd IEEE NORCAS Conference, 1-2 November, 2016
konverentsi toimumispaik Copenhagen, Denmark
märksõna arvutis├╝steemid
digitaalintegraall├╝litused
rikked
diagnostika (tehn.)
võtmesõna digital circuits and systems
random diagnostic tests
test generation
diagnostic resolution
ISBN 978-1-5090-1095-0
märkused Bibliogr.: 14 ref
url https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915