TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Ubar, R.
maakood de
autor Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Sequential circuit test generation using decision diagram models
vastutusandmed Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas Design, Automation and Test in Europe : DATE : Conference and Exhibition 1999 : Munich, Germany, March 9-12, 1999 : proceedings
ilmumiskoht Los Alamitos
kirjastus/väljaandja IEEE Computer Society
ilmumisaasta c1999
leheküljed p. 736-740: ill
ISBN 0-7695-0078-1
märkused Bibl. 8 ref