TalTech publikatsioonid
pealdis Balakrishnan, A., Lange, T., Glorieux, M., Alexandrescu, D., Jenihhin, M.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Balakrishnan, Aneesh
Lange, Thomas
Glorieux, Maximilien
Alexandrescu, Dan
Jenihhin, Maksim
pealkiri The validation of graph model-based, gate level low-dimensional feature data for machine learning applications
vastutusandmed Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Maksim Jenihhin
allikas 2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
ilmumiskoht Danvers
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2019
leheküljed 7 p
konverentsi nimetus, aeg 2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019
konverentsi toimumispaik Helsinki, Finland
märksõna graafilised kasutajaliidesed
masinõpe
tehisintellekt
mudelipõhine tarkvaraarendus
võtmesõna probabilistic graphical models
deep learning
machine learning (ML)
functional derating
Single-Event Upset (SEU)
gate-level netlist
Graph Modeling Language (GML)
ISBN 978-1-7281-2769-9
märkused Bibliogr.: 11 ref
url https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906974