TalTech publikatsioonid
pealdis Skobtsov, Y.A., Ivanov, D.E., Skobtsov, V.Y., Ubar, R., Raik, J.
maakood ed
autor Skobtsov, Y.A.
Ivanov, D.E.
Skobtsov, V.Y.
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
pealkiri Evolutionary approach to test generation for functional BIST
vastutusandmed Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar, J.Raik
allikas Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005
ilmumiskoht [Tallinn
kirjastus/väljaandja Tallinn University of Technology]
ilmumisaasta 2005
leheküljed p. 151-155 : ill
märkused Bibliogr.: 11 ref