TalTech publikatsioonid
pealdis Ivask, E., Ubar, R., Raik, J.
maakood pt
autor Ivask, Eero
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms
vastutusandmed E.Ivask, R.Ubar, J.Raik
allikas IEEE European Test Workshop
ilmumiskoht Cascais
ilmumisaasta 2000
leheküljed p. 319-320