TalTech publikatsioonid
pealdis Karputkin, A., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Karputkin, Anton
Raik, Jaan
pealkiri A synthesis-agnostic behavioral fault model for high gate-level fault coverage
vastutusandmed Anton Karputkin, Jaan Raik
allikas Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 14-18 March 2016, ICC, Dresden, Germany
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja EDAA
ilmumisaasta 2016
leheküljed p. 1124-1127 : ill
konverentsi nimetus, aeg 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 14-18 March, 2016
konverentsi toimumispaik Dresden, Germany
märksõna arvutis├╝steemid
rikked
testimine
ISSN 1558-1101
ISBN 978-3-9815370-6-2
märkused Bibliogr.: 19 ref