TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.
maakood gr
autor Raik, Jaan
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Exact static compaction of sequential circuit tests using branch-and-bound and search state registration
vastutusandmed Jaan Raik, Artur Jutman, Raimund Ubar
allikas ETW'02 : 7th IEEE European Test Workshop, Gorfu Greece, May 26-29, 2002 : informal digest
ilmumiskoht [S.l.]
ilmumisaasta [2002]
leheküljed p. 19-20
märkused Bibliogr.: 6 ref