TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Ubar, R.
maakood us
keel inglise
autor Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Hierarchical test generation for digital systems based on combining bottom-up and top-down approaches
vastutusandmed J. Raik, R. Ubar
allikas World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics, July 12-16, 1998, Orlando, Florida : proceedings. Vol. 1
ilmumiskoht [S.l.]
ilmumisaasta [1998]
leheküljed p. 374-381: ill
ISBN 980-07-5078-9
märkused Bibl. 27 ref