TalTech publikatsioonid
pealdis Annus, P., Land, R., Min, M., Reidla, M., Rist, M.
TTÜ struktuuriüksus Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
maakood us
keel inglise
autor Annus, Paul
Land, Raul
Min, Mart
Reidla, Marko
Rist, Marek
pealkiri Notes on applicability of the impedance spectroscopy for characterization of materials and substances
vastutusandmed Paul Annus, Raul Land, Mart Min, Marko Reidla, Marek Rist
allikas I2MTC 2016 : 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference : May 23-26, 2016, Taipei International Convention Center, Taipei, Taiwan : proceedings
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2016
leheküljed p. 1052-1057 : ill
konverentsi nimetus, aeg 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, May 23-26, 2016
konverentsi toimumispaik Taipei, Taiwan
märksõna impedantsspektroskoopia
võtmesõna impedance spectroscopy
embeddable solution
binary excitation
practical applications
system identification
ISBN 978-1-4673-9220-4
märkused Bibliogr.: 6 ref
url https://doi.org/10.1109/I2MTC.2016.7520513