TalTech publikatsioonid
pealdis Saltarelli, P., Niazmand, B., Raik, J., Govind, V., Hollstein, T., Jervan, G., Hariharan, R.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Saltarelli, Pietro
Niazmand, Behrad
Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Hollstein, Thomas
Jervan, Gert
Hariharan, Ranganathan
pealkiri A framework for combining concurrent checking and online embedded test for low-latency fault detection in NoC routers
vastutusandmed Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
allikas NOCS '15 : International Symposium on Networks-on-Chip : Vancouver, BC, Canada, September 28-30, 2015
ilmumiskoht New York
kirjastus/väljaandja ACM
ilmumisaasta 2015
leheküljed [8] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg 9th International Symposium on Networks-on-Chip, September 28-30, 2015
konverentsi toimumispaik Vancouver, BC, Canada
märksõna kiipvƵrgud
rikked
diagnostika (tehn.)
võtmesõna network-on-chip
fault tolerant router design
concurrent online checking
embedded test
test packets
ISBN 978-1-4503-3396-2
märkused Bibliogr.: 21 ref
url http://dx.doi.org/10.1145/2786572.2788713