TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Kostin, S., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
pealkiri Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
vastutusandmed Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas 2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta c2013
leheküljed p. 36-41 : ill [CD-ROM]
konverentsi nimetus, aeg 2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 26-28 March, 2013
konverentsi toimumispaik Abu Dhabi, UAE
märksõna integraall├╝litused
kiipv├Árgud
rikked
testimine
võtmesõna multiple faults
fault masking
test groups
test generation
fault dignosis
ISBN 978-1-4673-6038-8
märkused Bibliogr.: 21 ref