TalTech publikatsioonid
pealdis Palermo, N., Tihhomirov, V., Copetti, T.S., Jenihhin, M., Raik, J., Kostin, S. et al.
TTÜ struktuuriüksus arvutitehnika instituut
maakood us
keel inglise
autor Palermo, N.
Tihhomirov, Valentin
Copetti, Thiago
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Kostin, Sergei
pealkiri Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
vastutusandmed N. Palermo, V. Tihhomirov, T.S. Copetti, M. Jenihhin, J. Raik, S. Kostin, ... [et al.]
allikas 2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2015
leheküljed [6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg 16th Latin American Test Symposium, 25-27 March, 2015
konverentsi toimumispaik Puerto Vallarta, Mexico
märksõna riistvara
eluts├╝klid (tehn.)
elektronl├╝litused
rikked
diagnostika (tehn.)
algoritmid
võtmesõna hardware rejuvenation
aging
NBTI
critical path identification
logic circuit
evolutionary computation
MicroGP
zamiaCAD
ISSN 2373-0862
ISBN 978-1-4673-6711-0
märkused Bibliogr.: 33 ref
url http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405