TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Reinsalu, U., Ubar, R.-J., Jenihhin, M., Ellervee, P.
maakood sk
autor Raik, Jaan
Reinsalu, Uljana
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Ellervee, Peeter
pealkiri Code coverage analysis using high-level decision diagrams [Electronic resource]
vastutusandmed Jaan Raik, Uljana Reinsalu, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee
allikas 2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta c2008
leheküljed p. 201-207 : ill. [CD-ROM]
ISBN 978-1-4244-2277-7
märkused Bibliogr.: 13 ref