TalTech publikatsioonid
pealdis Ehrenberg, H., Odintsov, S., Devadze, S., Jutman, A., Aleksejev, I., Wenzel, T.
TTÜ struktuuriüksus arvutis├╝steemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Ehrenberg, Heiko
Odintsov, Sergei
Devadze, Sergei
Jutman, Artur
Aleksejev, Igor
Wenzel, Thomas
pealkiri Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation
vastutusandmed Heiko Ehrenberg, Sergei Odintsov, Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Thomas Wenzel
allikas 2019 IEEE AUTOTESTCON
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2019
leheküljed 10 p : ill
konverentsi nimetus, aeg 2019 IEEE AUTOTESTCON, 26-29 Aug. 2019
konverentsi toimumispaik National Harbor, MD, USA
märksõna programmeeritav ventiilmaatriks
elektroonika
testimine
võtmesõna FPGA
FPGA-Embedded Instrument
FPGA-Assisted Test
Board and System Test
JTAG / boundary scan
ISSN 1558-4550
1088-7725
ISBN 978-1-7281-2832-0
978-1-7281-2833-7
märkused Bibliogr.: 13 ref
url https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057