TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Aleksejev, I.
maakood ed
autor Ubar, Raimund-Johannes
Jervan, Gert
Kruus, Helena
Orasson, Elmet
Aleksejev, Igor
pealkiri Optimization of the store-and-generate based built-in self-test
vastutusandmed R.Ubar, G.Jervan, H.Kruus, E.Orasson, I.Aleksejev
allikas BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
ilmumiskoht [Tallinn]
kirjastus/väljaandja Tallinn University of Technology
ilmumisaasta 2006
leheküljed p. 199-202 : ill
ISBN 1-4244-0414-2
märkused Bibliogr.: 17 ref