print

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches

author
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Govind, Vineeth
statement of authorship
Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
location of publication
[Tallinn]
publisher
[Tallinna Tehnikaülikool]
year of publication
2007
pages
lk. 33-37 : ill
subject term
arvutisüsteemid
rikked
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-9985-59-700-2
notes
Bibliogr.: 17 nim
language
inglise
Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 33-37 : ill.