prindi

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches

autor
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Govind, Vineeth
vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikool]
ilmumisaasta
2007
leheküljed
lk. 33-37 : ill
märksõna
arvutisüsteemid
rikked
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-9985-59-700-2
märkused
Bibliogr.: 17 nim
keel
inglise
Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 33-37 : ill.